可程序恒溫恒濕試驗箱/微型恒溫恒濕箱具有較寬的溫度調(diào)節(jié)控制范圍，可滿足標(biāo)準(zhǔn)本產(chǎn)品滿足GB 2423.1--2001、GB 2423.2—2001、GB2423.3-2001、GB2423.4-2001等標(biāo)準(zhǔn)《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法，試驗Ca：恒定濕熱試驗方法，試驗Db：交變濕熱試驗方法》要求。GB 10592—89、GB/T5170.2-96標(biāo)準(zhǔn)制造件，并可按軍標(biāo)試驗要求GJB150.3-86，GJB150.4-86，及非標(biāo)準(zhǔn)制作各種半導(dǎo)體材料高低溫試驗設(shè)備。并等效滿足GJB150.9-86等相應(yīng)的標(biāo)、軍標(biāo)；也可按客戶的要求制造非標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品。

可程序恒溫恒濕試驗箱/微型恒溫恒濕箱優(yōu)勢特點：
1.型多功能, 擴展性強之溫濕度控制器,操作簡單,學(xué)習(xí)容易, 控制穩(wěn)定可靠.可供低溫、高溫、濕度及溫濕度交變多種試驗。
2.愛佩新*的圓弧造型設(shè)計, 外觀質(zhì)感高水準(zhǔn),美觀大方,并采用平面反作用把手，操作容易，使用安，壽命超長。
3.寬敞明亮之大型電熱觀察視窗：由三層超大型真空鍍膜（加熱膜）視窗及高亮度熒光燈組合而成，可清楚觀察溫濕度老化試驗箱的箱內(nèi)試驗樣品測試情況，并有效防止因內(nèi)外溫差而引起的水霧形成, 讓使用者可隨時觀測試驗箱內(nèi)的狀況。
4.可靠優(yōu)良的均勻送風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，長軸馬達(dá)部垂直安裝，防止因長期連續(xù)運轉(zhuǎn)而導(dǎo)致的馬達(dá)主軸偏心，故障率低許多。
5.離心風(fēng)機結(jié)合水平及垂直角度可調(diào)雙層百葉強制送風(fēng)循環(huán)設(shè)計，可避免箱內(nèi)的氣流死角,保證箱內(nèi)每個角落溫濕度均勻度更加*滿足標(biāo)準(zhǔn)沒有偏差。
6.愛佩人員組裝出先進可靠的冷凍系統(tǒng)，*歐美密閉

選型資料：
常規(guī)型號有: AP-HX-80D；AP-HX-100D；AP-HX-150D；AP-HX-225D；AP-HX-408D；AP-HX-800D；AP-HX-1000D
工作室內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）: 40*50*40；50*50*40；50*60*50；50*75*60；60*85*80；100*100*800；100*100*100；
設(shè)備內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）約: 98*135*98；105*147*105；108*150*108；107*160*119；120*173*128；156*183*130；157*186*150；
功率: 因為不同的尺寸配不同的溫度范圍功率會有所不同，請根據(jù)愛佩廠家提供的技術(shù)規(guī)格書上的為準(zhǔn)。
溫度可選擇范圍: A:0℃～150℃ B:-20℃～150℃ C:-40℃～150℃ D:-70℃～150℃（每個尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中段）
均勻度/波動度: ±2℃/±0.5℃
高溫恒溫的升溫速率: 1.0～3.0℃/min
低溫恒溫的降溫速率: 0.7～1.0℃/min
主要控制器: LED數(shù)顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控制器(可編程)
度范圍: 設(shè)定度：溫度±0.1℃，指示度：溫度±0.1℃，解析度：0.01℃
溫度傳感器: 鉑金電阻 PT100Ω/MV。

控制系統(tǒng)：
（）加熱系統(tǒng)：
1.采用鰭片散熱管形鎳鉻合金不銹鋼電加熱器，升溫快使用壽命長。
（二）風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)：
1.采用多翼式離心送風(fēng)機送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫濕度分布均勻。
2.風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快。
3.采用可上、下、左、右調(diào)整導(dǎo)風(fēng)板，以保證溫、濕度均勻分布。
（三）加濕系統(tǒng)：
1.加濕：獨立系統(tǒng)，外置隔離式不銹鋼淺表面蒸發(fā)式加濕器，通過加熱形成濕蒸氣加濕，通過探頭檢測濕度。
2.供水：隱藏式水箱供水，小水泵自動抽水到加濕桶，可回收余水.節(jié)水降耗。
升溫、加濕系統(tǒng)獨立可提率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。